Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Anti-patterns as a Means of Focusing on Critical Quality Aspects in Enterprise Modeling
Stockholms universitet, Samhällsvetenskapliga fakulteten, Institutionen för data- och systemvetenskap.
2009 (Engelska)Ingår i: Enterprise, Business-Process and Information Systems Modeling, Terry Halpin, John Krogstie, Selmin Nurcan, Erik Proper, Rainer Schmidt, Pnina Soffer, Roland Ukor , 2009Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Terry Halpin, John Krogstie, Selmin Nurcan, Erik Proper, Rainer Schmidt, Pnina Soffer, Roland Ukor , 2009.
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:su:diva-33374ISBN: 978-3-642-01861-9 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:su-33374DiVA, id: diva2:283058
Anmärkning
Proceedings of EMMSAD 2009Tillgänglig från: 2009-12-23 Skapad: 2009-12-23

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Av organisationen
Institutionen för data- och systemvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

isbn
urn-nbn
Totalt: 30 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf