Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Noise-dependent bias in quantitative STEM-EMCD experiments revealed by bootstrapping
Stockholms universitet, Naturvetenskapliga fakulteten, Institutionen för material- och miljökemi (MMK). Uppsala University, Sweden; Forschungszentrum Jülich, Germany.ORCID-id: 0000-0002-8262-5893
Visa övriga samt affilieringar
Antal upphovsmän: 72024 (Engelska)Ingår i: Ultramicroscopy, ISSN 0304-3991, E-ISSN 1879-2723, Vol. 257, artikel-id 113891Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Electron magnetic circular dichroism (EMCD) is a powerful technique for estimating element-specific magnetic moments of materials on nanoscale with the potential to reach atomic resolution in transmission electron microscopes. However, the fundamentally weak EMCD signal strength complicates quantification of magnetic moments, as this requires very high precision, especially in the denominator of the sum rules. Here, we employ a statistical resampling technique known as bootstrapping to an experimental EMCD dataset to produce an empirical estimate of the noise-dependent error distribution resulting from application of EMCD sum rules to bcc iron in a 3-beam orientation. We observe clear experimental evidence that noisy EMCD signals preferentially bias the estimation of magnetic moments, further supporting this with error distributions produced by Monte-Carlo simulations. Finally, we propose guidelines for the recognition and minimization of this bias in the estimation of magnetic moments.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2024. Vol. 257, artikel-id 113891
Nyckelord [en]
Electron magnetic circular dichroism, Electron energy loss spectroscopy, Scanning, Transmission electron microscopy, Bootstrapping, Noise dependent bias, Error analysis
Nationell ämneskategori
Annan materialteknik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:su:diva-225757DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113891ISI: 001132754500001PubMedID: 38043363Scopus ID: 2-s2.0-85178597506OAI: oai:DiVA.org:su-225757DiVA, id: diva2:1830457
Tillgänglig från: 2024-01-23 Skapad: 2024-01-23 Senast uppdaterad: 2024-01-30Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextPubMedScopus

Person

Ali, HasanTai, Cheuk-WaiThersleff, Thomas

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Ali, HasanTai, Cheuk-WaiThersleff, Thomas
Av organisationen
Institutionen för material- och miljökemi (MMK)
I samma tidskrift
Ultramicroscopy
Annan materialteknik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
pubmed
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
pubmed
urn-nbn
Totalt: 30 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf